[項(xiàng)目介紹]  

跌落試驗(yàn)通常是主要用來模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定）。

跌落試驗(yàn)對于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產(chǎn)品(如手機(jī), MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產(chǎn)品(如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

[業(yè)務(wù)范圍]

1.計(jì)算機(jī)類：電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等跌落試驗(yàn)。

2.電子通信類：手機(jī)、射頻器、電子通信元器件等跌落試驗(yàn)。

3.電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備跌落試驗(yàn)；

4.其他：包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等跌落試驗(yàn)。

[測試參考標(biāo)準(zhǔn)]  

ISTA，IEC60068-2-32，GB/T4857.5等。

GB/T2423.8-1995 / IDT IEC 60068-2-32：1990  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ed：自由跌落 方法一：自由跌落

GJB360B-2009  電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法 203 隨機(jī)跌落試驗(yàn)

GMW3172-2012  電氣－電子元件通用規(guī)范－環(huán)境/耐久性  9.3.10自由跌落

VW80000  3.5噸以下汽車電氣和電子部件試驗(yàn)項(xiàng)目、試驗(yàn)條件和試驗(yàn)要求8.1自由落體試驗(yàn)